Speaker
Description
Die Präparation von CuZn-Legierungen mit fokussiertem Ionenstrahlen ist eine Herausforderung, da der thermische Eintrag die Probe erwärmt und u.a. zum Abdampfen von Zn führt. Bei höheren Zn-Konzentrationen, wie im exemplarisch verwendeten Diffusionspaar aus CuZn30 und CuZn80 (15min bei 565°C wärmebehandelt), treten zusätzliche Phasen auf. Im Bereich der gamma-Phase wurden im Rasterelektronenmikroskop nach der Vibrationspolitur [Johann Möbius, Prakt. Metallographie, accepted] feine nadelige Ausscheidungen (Widmannstätten) beobachtet. Der eutektoide Bereich im Phasendiagramm legt die Bildung der spröderen epsilon-Phase nahe. Mit einer Ausscheidungsgröße von max. 1x20µm war eine Identifizierung mittels REM-EDX und EBSD nicht eindeutig möglich und Proben für Transmissionselektronenmikroskopie wurden mittels fokussiertem Ga-Ionenstrahl präpariert. Während der ersten Präparationsschritte gab es deutliche Hinweise auf Ausscheidungen. In den letzten Schritten des Dünnens verschwanden die Ausscheidungen. Im TEM konnte keine zusätzliche Phase in gamma detektiert werden, die Zn-konzentration war über den gesamten Bereich einheitlich. Kritisch ist der Energieeintrag durch die Ga-Ionen in Kombination mit dem geringen Vakuum. Berichtet wird, ob mit Hilfe des Gases XeF2 die Ausscheidungen während der Präparation erhalten werden können und so eine Darstellung im Transmissionselektronenmikroskop möglich wird.