27. Spektrometertagung 2017

Name: 27. Spektrometertagung 2017
Start: 2017-09-27T08:00:00+02:00
End: 2017-09-27T18:40:00+02:00
Location: Schloss Schönbrunn (Apothekertrakt)

27 September 2017

Schloss Schönbrunn (Apothekertrakt)

Europe/Vienna timezone

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Speaker List

Knut Alt
- Speaker at Radioaktivitätsmessung im Stahlwerkslabor
Thomas Asam
- Speaker at Möglichkeiten zur Bestimmung der Messunsicherheit in der Funkenspektrometrie nach DAKKS Vorgaben (GUM, EURACHEM)
Christian Bohling
- Speaker at LIBS in der industriellen Inline-Prozesskontrolle
Jörg Flock
- Speaker at Automation der Röntgenfluoreszenzanalyse – vom Schmelzaufschluss bis zur Auswertung
Bernd Friedrich
- Speaker at Umsetzung der 2013/59/EURATOM: Modularer Labormessplatz zur Messungen der radioaktiven Kontamination chargenbezogener Metall-, Staub-, Schlacke- oder Zuschlagstoffproben
Josef Hofstadler
- Speaker at LIBS – Potential und Grenzen
Georg Hölzl
- Speaker at Design und Verwendung einer IRRAS Bewitterungszelle für atmosphärische Korrosionsstudien
Norbert Huber
- Speaker at Ortsaufgelöste Elementanalyse von metallischen und isolierenden Schichten durch Kombination von Laser-Ablation und elektrischer Funkenspektroskopie
Kerstin Koerner
- Speaker at Analyse von Aluminium- und Magnesiumoxiden auf schmelztauchvereldeten Stahlfeinblechen mittels RFA
Andreas Limbeck
- Speaker at Elemental mapping of PM steels using LA-ICP-MS: laterally resolved analysis of metallic and non-metallic elements
Dietmar Lindner
- Speaker at C,S-Bestimmung in Roheisen - Methodenvergleich und deren Leistungsfähigkeit
Thomas Moldaschl
- Speaker at Defect Detection in High Quality Polymers used in the Semiconductor Industry
Rainer Schramm
- Speaker at Neueste Entwicklungen von Röntgenfluoreszenz Applikationen mit Schmelzaufschluss als Probenvorbereitung
Andreas Tebeck
- Speaker at Rückstandsfreier Säureaufschluss von Ferro-Legierungen
Fabian Weiss
- Speaker at Bestimmung von Chrom im Alterungsprozess von LD-Schlacke mittels Synchrotron Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)